仪器设备：X 射线衍射分析仪（日本） 

分析内容：X 射线衍射分析（XRD）物相定量分析、半定量分析、晶体结构扫描

适用领域：各种矿物、岩石矿石、粉末、薄膜、材料等。第三方专业XRD 测试机构。

主要服务科研院所，高等院校，企业等客户。

检测依据：

JY/T 009-1996《转靶多晶体X射线衍射法通则》
SY/T 5163-2018 沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物 X 射线衍射分析方法

检测仪器：日本理学 D/MAX-2600 X光粉晶衍射仪

样品实例：

页岩矿物成分含量（XRD +分析）

黏土与非黏土矿物相对含量（%）：
方解石、白云山、石英、斜长石、钾长石、黄铁矿、菱铁矿、黏土矿物
黏土矿物相对含量（%）：
高岭石 、绿泥石、伊利石、伊/蒙间混层矿物

测试项目：

a. 常规广角: 5--90°，小角：0.5--10°；
b. 常规测试速率：10°/min、5°/min、2°/min；小角测试速率：1°/min, 0.5°/min
c. 该测试只得到样品的XRD原始谱图，不包括对数据的处理和分析。

测试结果给出的是RAW格式或txt格式测试结果。
文本格式文件可以用Search match分析软件打开，origin软件作图；
RAW格式文件可以用jade分析软件打开。

样品要求：

1. 样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品、液体样品可以涂在载玻片上干燥之后测试。
2. 粉末样品：颗粒一般不超过75微米，手摸无颗粒感，较大需要适当研磨，样品用量一般0.5g以上。
3. 块状、薄膜样品：
（1）至少有一表面为平整光洁平面。
（2）若为立方体则平面长宽≤20mm，且厚度范围50微米～15毫米；
（3）若为圆柱体则直径≤20mm，高≤15mm。

X射线衍射仪技术（XRD）可为客户解决的问题

（1）当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。
（2）很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。
（3）新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。
（4）产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力。
（5）纳米材料由于颗粒细小，极易形成团粒，采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。

采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。